全自动芯片点测机

全自动芯片点测机

全自动芯片测试仪器拥有**运动定位平台，可满足多尺寸芯片芯粒测试要求，可自动上下片、对准、定位等功能，提高测试效率，并可以支持多芯测试，配有CCD视觉定位系统。测试系统可选配多款电流源，满足不同功率芯片芯粒测试检测。