全自动芯片点测机
全自动芯片测试仪器拥有**运动定位平台,可满足多尺寸芯片芯粒测试要求,可自动上下片、对准、定位等功能,提高测试效率,并可以支持多芯测试,配有CCD视觉定位系统。测试系统可选配多款电流源,满足不同功率芯片芯粒测试检测。
全自动芯片点测机
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